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产品系列
J100 Femto LA系统
—飞秒级ICP-MS激光剥蚀进样系统
LA-ICP-MS 的量子级飞跃
J100 Femto LA系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J100确保元素和同位素不分解的情况下,均匀剥蚀样品成透明状,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
减少样品的依赖性,比雾化技术精度高
J100系列剥蚀样品精度高,且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统,会发生的多种热过程,改变剥蚀样品的数量和化学成分,如改变热特性等;并且无论采用什么波长,如266nm, 213nm 或193nm, 为了准确定量的分析元素和同位素,需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。
J100剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量
长激光脉冲系统产生的样品颗粒大(常大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低,并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值,导致测量精度降低。J100系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解,产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J100系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。
元素和同位素的分馏*少
在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程:(1)非化学计量物质剥蚀的热过程;(2)大样品颗粒在ICP源不完全消解。J100施加高能激光的时间比长脉冲系统短,*短达1/10000。J100系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全消解,确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。
高精度元素和同位素测量的保障
ASI公司的技术团队拥有80多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是世界**在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲,并实现其**性能的公司。J100 Femto LA系统能完成**挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品,意味着能直接和世界**的研究团队交流,并得到专业的技术支持。
强大的 软件与ICP-MS仪器协同操作
J100 Femto LA系统软件 功能直观、带图形界面,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式。 采用双向通信控制,协同操作ICP-MS仪器达到了****的水平。 软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集,并通过串联多个“处方”,让系统自动完成各个测量工作。
硬件控制简单、方便
软件使J100用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态,不同用户组可赋予不同的使用权限。
获取勾边样品图像,制定复杂的激光采样模式
软件提供大的视频窗口,显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构,采用 的模式工具也可选定,并分析其元素或同位素。
双照相系统扫描样品
J100 的两个相机提供广角和放大的样品图像。 允许用户先获取样品的广角图像,然后在图像上扫视不同的位置,高倍放大选定点。
智能气流控制,**限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能
具备智能输送和补充气控制功能,使每种气体按预定的方式达到设定值,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态,防止突然冒火焰。预设阀配置可选择氩气或氦气作为输送气或补充气。
“处方”功能让系统自动运行
用户可将多个硬件部件运行命令集合,并按时间顺序排列,形成 “处方”。制定完成的处方,以后也可以调用。多个处方可编制成组,自动顺序执行,使测量工作高度自动化。
可简单采用“recall”命令调用“处方”,重复实验,也可复制部分“处方”,结合新的命令,完成新的采样过程。
参考文献:请来电索取1980s , 1991-2004年的文献
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